2008-03-31

請即參加美國國家半導體監控、測試及測量系統解決方案研討會,獲取豐富禮品

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監控、測試及測量系統廣泛用於汽車、醫療、軍事、生產及測試等多種不同行業。美國國家半導體是市場上居領導地位的類比晶片供應商,一直致力於開發可支援不同系統設計的創新製程技術,以確保產品不僅可發揮極高的能源效率,而且性能更穩定可靠。 

本次研討會是探討如何構思獨特的設計,讓產品在市場上脫穎而出? 有興趣者實不容錯過這個難得的觀摩交流機會。

研討會的舉行日期、時間及地點如下:
日期: 2008 年 4 月 29 日 ( 星期二 )
時間: 上午九時至下午五時 ( 大會將提供午膳及茶點 )
地點: 台北喜來登大飯店 – B2 祿廳 ( 台北市忠孝東路一段 12 號 )
費用 : 新台幣 $1,000 (4 月 15 日或之前繳付報名費 )
  新台幣 $1,300 (4 月 16 日或之後繳付報名費 )

報名表

研討會的議題包括:
·  電源管理解決方案
·  LED 的應用
·  適用於安全系統的 PoE 供電系統
·  低速放大器 + 類比/數位轉換器
·  高速放大器 + 類比/數位轉換器
·  介面產品

會議全程將以中文解說並附英文講義,現場也設有產品展示區。所有出席研討會的人士都會獲發一份有關研討內容及其他文宣方面的資料。此外,研討會圓滿結束之後,每一位參加者都可獲贈精美 Waterman 原子筆,並可參加幸運抽獎,獲得時尚蘋果iPod!



有意參加者必須線上預先登記,由於名額有限,請盡速報名參加,以免向隅。
報名表

申請一經接納之後,主辦單位會向申請人發出電子郵件確認書,確認書上會列明確認號碼及付款辦法,請於收到通知書後,盡快繳交有關費用以保留座位。

如欲查詢詳情,可向 ap.event@nsc.com 發送電子郵件查詢。

* 美國國家半導體擁有參加者資格審核權,並有權隨時更改研討會內容而無需預先發出通知。
* 報名繳款後恕不退款 
* 請於出席活動時攜帶通知書和兩張名片



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